Piirilevyjen laadun ja luotettavuuden testaus! Jäykät{0}}joustavat piirilevyt

1. Laatu- ja luotettavuusindikaattorit

   Yleisesti ottaen laadun luotettavuuden mittausmenetelmät ovat erilaisia ​​ja myös käytetyt otantakonseptit ovat erilaisia. Laatuindikaattorit keskittyvät pääasiassa määrään, joten omaksuttu käsite on saada viallisten tuotteiden osuus tilastollisilla menetelmillä, ja yleisesti käytetty laskentamalli on yksi-kerta-/-miljoonaa tuotetta. . Mitä tulee luotettavuusindikaattoreihin, se keskittyy tuotteen-pitkäaikaiseen käyttöön.

   On olemassa kaksi päämenetelmää:

   (1) pieni määrä näytteitä pitkään

   (2) suuri määrä näytteitä lyhyen ajan, vikaaika on yleinen kieli, ja jokainen FIT-yksikkö tarkoittaa yhden vian todennäköisyyttä komponenttien miljardia käyttötuntia kohden.

2. Luotettavuuslausunto

Luotettavuuden laskennallinen vertailuarvo ilmaistaan ​​yleensä yksinkertaisena luotettavuusyhtälönä seuraavasti: R(t)=1-F(t)

F(t):llä ilmaistu merkitys on epäonnistumisprosentti. Yleinen vikatiheysfunktio sisältää neljä päävirhetyyppiä, nimittäin: hetkellinen vikataajuus, keskimääräinen vikataajuus, keskimääräinen vikatiheyden esiintymisaika ja keskimääräinen epäonnistumisaikaväli. Palautunut tai korjattu vikatila.

Käyttämällä polttoa-testausprosessissa valmistajat voivat eliminoida ennenaikaiset tuotteet entistä tiukemmin. Mitä tulee ikääntymistestin ehtoihin, varhaisen kuoleman ajanjakson ja normaalijakson rajan asettamiseen, tämä osa on arvioitava huolellisesti etukäteen. Varsinkin viime vuosina elektroniikkatuotteiden elinkaari ja vaihtonopeus ovat muuttuneet merkittävästi, ja monet testispesifikaatiot ovat varhaisia ​​Yhdysvaltain armeijan spesifikaatioita tai viestintäjärjestelmän tuotespesifikaatioita. Varovaisuutta on noudatettava riippumatta siitä, noudatetaanko samoja standardeja tai alennetaan.